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失效分析单项检测

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    俄歇电子能谱分析(AES)



X射线分析 (X-ray)



金相切片分析 (Metallographic)



SEM和EDS分析 (SEM&EDS)



激光共聚焦显微拉曼光谱分析 (Micro Raman spectroscopy)



X射线衍射分析(XRD)



显微傅里叶红外光谱分析 (FTIR)



声学扫描分析(C-SAM)



透视电子显微镜(TEM)



X射线荧光光谱分析(XRF)



染色分析 (Staining

 
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